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AXIS SUPRA 
複合型全自動成像X光電子分析裝置 XPS/ECSA
裝置構成高自由度維持不變﹐性能變好之外 ﹐ 操作部分全都電腦控制化的複合表面分析裝置。 球面鏡分析器使得高速即時 XPS 成像解析度達1µm﹐能鮮明地視覺化細微領域的化學狀態分佈。 由於選項豐富﹐可以使用在反應過程中避免接觸大氣的實驗或是高能量 XPS 測定等等多用途上。
XPS X光光電子分析裝置
Kratos位於英國曼徹斯特,最早生產商品化X射線光電子能譜儀(XPS),也是業界有口皆碑的XPS品牌。自1997年以來,島津/Kratos研發了包括專利的磁沉浸透鏡和專利的低能電子荷電中和系統等一系列新技術的新型光電子能譜儀——AXIS Ultra,並於2002年底推出了使用二維位敏檢測器——延遲線檢測器(Delay-Line Detector)的最新型AXIS Ultra DLD型XPS譜儀,並於近期將Al單色X射線源從450W升級到業界最高功率600W,達到更高的分析靈敏度和更好的信噪比。截至到目前為止,在世界上已經銷售了共計近500台AXIS Ultra型,在包括MIT、北京大學、中正大學、中國科學院、美國國家標準與技術研究院NIST、英國國家物理實驗室NPL、Intel、Sony、3M等世界上許多著名的大學、科研機構和企業中。均得到了高度的認可,在業界處於絕對領先地位。
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