OneSight
高速檢測器採用矽半導體探測技術,矽半導體檢測器具有極高的空間和能量解析度;與氣體檢測器相比,其能量解析度至少提高一個數量級;同時OneSight具有優異的靈敏度,與閃爍晶體檢測器相比,其靈敏度可以提高100倍以上。島津XRD-6000/6100/7000型X射線衍射儀均可配置One sight檢測器。
XRD X光繞射儀
X光繞射分析法可無損的物相定性和定量分析,而且利用繞射峰位、繞射峰強度、繞射峰線型等資訊可進行材料晶體結構的表徵,如:點陣常數的精密測定,晶粒尺寸和微觀應變計算,宏觀殘餘應力測定,結晶度計算等。X光繞射分析法是材料微觀結構表徵最常規和最有效的方法之一。
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