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EPMA-1720/1720H
電子探針
可在微區領域進行高靈敏度、高精度分析。控制系統全部數位化。觀察、分析只需使用滑鼠、鍵盤,Windows操作系統,使用方便且安全。還可通過區域網電腦瀏覽數據。EPMA-1720H型配備高性能CeB6燈絲,實現了在微奈米領域的分析實用化。
表面觀察及分析
島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析的物件從幾釐米到幾微米;X光光電子能譜儀(XPS)分析的物件從幾毫米到幾微米;而掃描探針顯微鏡(SPM)觀察範圍從100微米到幾奈米。
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