EPMA-8050G
電子探針
此儀器配備有尖端的場發射電子光學系統(FE-Gun),其中提供了前所未有的空間分辨率以及大電流輸出,實現超高靈敏度分析。最多可裝到五組偵測器 ,以縮短分析時間。人性化的介面使用者更容易上手,只要使用滑鼠就可完成分析,更甚而可以完成整份報告。
表面觀察及分析
島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析的物件從幾釐米到幾微米;X光光電子能譜儀(XPS)分析的物件從幾毫米到幾微米;而掃描探針顯微鏡(SPM)觀察範圍從100微米到幾奈米。
    10361台北市民權西路136號16樓之二
    TEL:+886-2-2557-2340
    40859台中市南屯區文山三街131號12樓之二
    FAX:+886-2-2553-4763
    40757台中市西屯區市政路500號18樓之二