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KRATOS Nova
成像X光電子分析裝置 XPS/ESCA
自樣品導入至分析自動化的 µXPS 裝置。 能從 CCD 攝影機圖像或即時光電子圖像 (Mapping) 指定110mmΦ 樣品盤上的任意位置。 利用劃時代的中和方法 (專利)﹐連至今都被視為困難的有機物微分析也能不破壞樣品便可得到解析度良好的光譜。 對空氣敏感的樣品在機器間運送中﹐也可以利用空氣敏感樣品傳送器 (Load Chamber:選配)。
XPS X光光電子分析裝置
Kratos位於英國曼徹斯特,最早生產商品化X射線光電子能譜儀(XPS),也是業界有口皆碑的XPS品牌。自1997年以來,島津/Kratos研發了包括專利的磁沉浸透鏡和專利的低能電子荷電中和系統等一系列新技術的新型光電子能譜儀——AXIS Ultra,並於2002年底推出了使用二維位敏檢測器——延遲線檢測器(Delay-Line Detector)的最新型AXIS Ultra DLD型XPS譜儀,並於近期將Al單色X射線源從450W升級到業界最高功率600W,達到更高的分析靈敏度和更好的信噪比。截至到目前為止,在世界上已經銷售了共計近500台AXIS Ultra型,在包括MIT、北京大學、中正大學、中國科學院、美國國家標準與技術研究院NIST、英國國家物理實驗室NPL、Intel、Sony、3M等世界上許多著名的大學、科研機構和企業中。均得到了高度的認可,在業界處於絕對領先地位。
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