XRD X光繞射儀

X光繞射分析法可無損的物相定性和定量分析，而且利用繞射峰位、繞射峰強度、繞射峰線型等資訊可進行材料晶體結構的表徵，如：點陣常數的精密測定，晶粒尺寸和微觀應變計算，宏觀殘餘應力測定，結晶度計算等。X光繞射分析法是材料微觀結構表徵最常規和最有效的方法之一。