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EDX-7000/8000

EDX X光螢光光譜儀 EDX-7000/8000

搭載4種準直器及CCD樣品觀測裝置，自動切換5種一次濾光片，準直器和一次濾光片能自由組合。高靈敏度(提高檢測下限1.5~5倍)、高速(分析速度最大可提高10倍)、高分辨率、無需液氮。EDX-8000可進行超輕元素分析。

EDX X光螢光光譜儀

能量色散X光螢光光譜儀使用X光照射樣品，測量所產生的X光螢光的能量（波長）和強度，以確定樣品中元素組成的種類和含量。由於X光螢光光譜法能以非破壞性分析固體、粉末、液體樣品，也可快速且不具破壞性的測試印刷電路板和其他電子設備中有害元素，因而被廣泛用於全球的電子電氣和汽車製造企業，應用於符合歐盟RoHS/ ELV指令的檢查和品質控制。