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SPM-9700HT
掃描探針顯微鏡
可高倍率觀察樣品的三維立體形狀或局部物性的顯微鏡。因其豐富的功能性與擴張性,可支援各種需求。精進的軟體介面,從觀察到分析的操作更為順暢。
表面觀察及分析
島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析的物件從幾釐米到幾微米;X光光電子能譜儀(XPS)分析的物件從幾毫米到幾微米;而掃描探針顯微鏡(SPM)觀察範圍從100微米到幾奈米。
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