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SPM-8000FM
高感度掃描型探針顯微鏡
HR-SPM為採用FM頻率調變檢出方式的新世代掃描型探針顯微鏡。過去的SPM(掃描型探針顯微鏡)/AFM(原子力顯微鏡)一般為AM(震幅調變)的方式, FM(頻率調變)方式原理上為高感度測定法,可以更高分解能成像。不僅可以超高分解能觀察大氣中以及液體中的樣品,也可觀察在固液界面的水合、溶合作用。
表面觀察及分析
島津能夠提供鋼鐵、有色金屬、環境、食品、化工、製藥、半導體、陶瓷及高分子等眾多領域客戶,多種樣品分析所需種類繁多的分析儀器。電子探針(EPMA)分析的物件從幾釐米到幾微米;X光光電子能譜儀(XPS)分析的物件從幾毫米到幾微米;而掃描探針顯微鏡(SPM)觀察範圍從100微米到幾奈米。
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